日本SSD西西蒂測量衰減度測定器

產(chǎn)品簡介
日本SSD西西蒂測量衰減度測定器，型號H0110-S4B
帶電電荷衰減度測定器靜電誠實計

Name: 日本SSD西西蒂測量衰減度測定器H0110-S4B
Brand: SSD/日本
Availability: InStock

產(chǎn)品型號：H0110-S4B

更新時間：2026-02-28

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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日本SSD西西蒂測量衰減度測定器

符合JIS L1094:2014標(biāo)準(zhǔn)。
用于測量材料的靜電擴散性！
與V3配合使用。

用于研究材料靜電擴散性的靜電衰減測量儀，通過 corona 放電生成空氣離子并照射到樣品上使其帶電，然后停止空氣離子的照射，研究電荷的衰減曲線的裝置。已升級至 H0110-S4B 版本。

本裝置是根據(jù)JIS L1094-1980織物及針織物的帶電性試驗方法的半減期測量器。（如果需要在探針高度20mm時進行校準(zhǔn)，請在購買時指定）
作為試樣帶電的方法，采用了通過 corona 放電生成的空氣離子的照射，因此可以通過選擇 corona 放電的極性和施加電壓，使試樣帶上正電或負(fù)電，并且可以改變電壓值。
薄膜、板、絲、布、地毯、玻璃等片狀樣品都可以測量。但是，請注意重量、厚度和大小有限制，請聯(lián)系我們的客服。
可以進行誠實的測量測試。
HONEST 數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)已升級到 V3 版本。H0110-S4B 也支持 HONEST 本體。
為了將V3連接到H0110-S4A，需要對主體進行改造。對于其他舊型號，可能無法進行連接所需的改造，請聯(lián)系客服。
H0110-S4校準(zhǔn)時的探針高度已的標(biāo)準(zhǔn)為符合JIS標(biāo)準(zhǔn)的15mm。如果需要20mm校準(zhǔn)，請在訂購時指定。
購買時請指定AC100V的50Hz/60Hz。

オネスト數(shù)據(jù)解析系統(tǒng)V3是一個解析計算器，可以從オネストメータ獲得的靜電衰減曲線中自動計算出電荷衰減的半衰期，從而可以一鍵自動測量材料的靜電衰減。通過連接電腦，可以得到以下功能。自2022年5月起，V3進行了版本升級。（V2已停止生產(chǎn)）